Joomla-Template by go-android.de & android forum
 
   
 
     
 
 
Пленочное кипение жидкости
Учитывая специфику условий протекания процесса злектро-эрозионной обработки, сомнительно утверждать, что пленочное кипение жидкости в межэлектродном промежутке переходит в пузырьковое, как это имеет место при охлаждении открытых по­верхностей [19]. Однако можно утверждать, что с понижением температуры поверхности лунки рабочая жидкость все чаще соприкасается с ней и, испаряясь, интенсивно отводит тепло.
Read more...
 
Определение шероховатости
Шероховатость поверхности оказывает существенное влияние на эксплуатационные свойства деталей, поэтому изучению ее параметров уделяется большое внимание [9, 22, 43 и др.]
Read more...
 
Схема образования шероховатости
М. Брюма обратил внимание, что единичные лунки на обра­батываемой поверхности могут располагаться упорядоченно, в виде строчек. Однако характер расположения лунок не оказы­вает влияния на параметры шероховатости реальной поверхно­сти. Для обеспечения съема металла со всей поверхности необ­ходимо сочетание большого количества строчек. В результате, как бы ни располагались лунки, они будут перекрывать друг друга, обусловливая единую схему образования шероховато­сти поверхности.
Read more...
 
Рассмотрение новой поверхности
Рассмотрение новой поверхности (рис. 7) с учетом некото­рых особенностей реального профиля позволяет сделать следую­щие общие замечания. Наиболее удаленные от уровня исход­ной поверхности Д—Д точки дна лунок О, Оп, 02 и' т. д. рас-.полагаюту;гТ._|.||11111111 л wmrmrnnn а именно как бы в вершинах |щ^дашщГ Щ Оз.9~щp$#fPi и т- Д- Выступы 1, 2, 3 и т. д., имеющие наибольшую высоту, располагаются так же законо­мерно, как бы в вершинах четырех — восьмиугольников, но ча­ще всего в вершинах шестиугольников (1, 2, 3, 9, 8, 7 и т. д.).
Read more...
 
Расчет основных параметров шероховатости
Выделение из реального профиля (см. рис. 4, а) система­тической его составляющей обычно приводило к профилям (см. рис. 4, б), рассмотренным в работах [15, 35]. Используя ука­занный профиль, можно провести анализ и расчеты таких па­раметров шероховатости, как R, s, m0, mB, щ и др., когда не­значительное местное искажение профиля не имеет принципи­ального значения. Это заключение подкрепляется результатами проведенных расчетов значения R [15], а также рассмотрения существующей методики определения параметров шероховато­сти [41].
Read more...
 
Расчет высоты неровностей профиля
Несмотря на важность изучения параметров шероховатости, которые определяют вид и износостойкость поверхности. Приняв средние значения коэффициентов К = К1 = К2==Кз= = rjhsi лунок равными между собой, а также условившись, что ^oi>#o2>-Ro3, имеем гЛ1>гл2>гл3, hlli>hll2>hJIi h/?i2<#2i>#32. Расстояния между центрами Ои 02, 03 лунок будут равны: между Ог и 02—Л12, между Ог и 03—А\ъ, между 02 и 03—Л23.
Read more...
 
Пересечение сфер
Следует отметить, что при выполнении расчета [15] рассмат­ривалось пересечение трех одинаковых по размерам сфер, ча­стями которых являются единичные лунки, без учета колебания параметров, входящих в выражение для определения высоты неровностей профиля.
Read more...
 
Расчет радиуса округления впадин
При отсутствии искажений неровностей радиус округления впадин поверхности будет равен радиусу сферы, частью кото­рой является единичная лунка. При использовании профиля не­ровностей, показанного на рис. 4, б, радиус округления впадин профиля рвп будет равен радиусу окружности R0 (см. рис. 7), находящейся в плоскости, в которой записан рассматриваемый профиль. Таким образом:
Read more...
 
Расчет шага неровностей профиля
Шаг неровностей профиля по вершинам s для каждого про­филя определяют из геометрических соображений. Например, (см. рис. 7)
St = Х01 4" Х1% >
где *oi и х12 — координаты линии пересечения окружностей с центрами О0 и Oh а также 0{ и 02 соответственно. При гл0< Ол1</л2 п0 аналогии с равенствами (1) — (1") можно запи­сать
х01 = Ао1гл1^>5 и дг12 = А12гл10,5.
Read more...
 
<< Start < Prev 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Next > End >>

Page 2 of 15

Опрос

А вы работали на производстве?
 
 
  Copyright 2008.All rights reserved.